leica清潔度系統(tǒng)DM4000M
智能數(shù)字式正置顯微鏡DM4000M
儀器介紹
研究級半自動智能數(shù)字式正置金相顯微鏡，適合金屬、陶瓷、高分子材料、電子元器件, 粉塵顆粒、等樣品的觀察分析
模塊化設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置
復(fù)消色差光路，整體光路支持25視域
6孔位的物鏡轉(zhuǎn)盤，配接32mm直徑工業(yè)物鏡
觀察方式可實(shí)現(xiàn)明場、暗場、偏光、干涉
機(jī)身內(nèi)置12V100W的透、反射照明電源，可提供自動光強(qiáng)變化的照明方式
系統(tǒng)能自動記憶在不同物鏡下和不同觀察方式下較佳的光強(qiáng)、光闌大小及聚光鏡的相應(yīng)組合，自動恢復(fù)到位，操作簡單快速
機(jī)座帶液晶顯示屏顯示顯微鏡各部件工作狀態(tài)、參數(shù)
光強(qiáng)、光闌、觀察方式調(diào)節(jié)和聚光鏡調(diào)節(jié)除可由按鍵控制外，還可由計(jì)算機(jī)控制操作，并自動在不同倍數(shù)物鏡下拍的照片中加相應(yīng)倍數(shù)標(biāo)尺
具有色溫恒定系統(tǒng)，提供工作效率
可配接攝像頭，數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行圖像采集、分析、測量。
可配接熒光觀察、高溫?zé)崤_、陰極發(fā)光儀、光度計(jì)
可配接4x4、6x6大樣品臺，觀察芯片等大尺寸樣品
可配接自動掃描臺進(jìn)行多視場金屬夾雜物自動分析和全視場的顆粒粒度、清潔度分析