TCI-XM清潔度顆粒檢測系統(tǒng)對清洗過濾后得到的濾有殘?jiān)臑V紙，通過測量顯微鏡法觀察和測定殘?jiān)w粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統(tǒng)的差別在XM型是手動(dòng)型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數(shù)量不多。

特點(diǎn)：

●通過數(shù)碼攝像頭可以在計(jì)算機(jī)監(jiān)視器上直接觀察、測量顆粒，準(zhǔn)確測定非金屬、金屬顆粒的大小

●能同時(shí)將金屬顆粒的反光區(qū)和陰影區(qū)合并測量

●鼠標(biāo)引導(dǎo)測量（鼠標(biāo)移動(dòng)相應(yīng)顆粒），自動(dòng)給出測量數(shù)據(jù)

●對于測試顆粒分類匯總

●任意排版的圖文混編的報(bào)告輸出

●顆粒范圍：3微米—5000微米

●濾紙：25/47/50/100

   整體性能指標(biāo)：

放大倍率：8X—50X

顆粒范圍：3微米—5000微米

濾紙：25/47/50/100

標(biāo)準(zhǔn)配置

○ 清潔度測量顯微鏡

○ 環(huán)形冷光源

○ 手推平臺(tái)帶濾紙托盤

○ 300萬像素高速工業(yè)數(shù)碼攝像頭

○ 0.05mm 物鏡測微尺

○0.1mm 目鏡測微尺

○ TCI 清潔度測試分析軟件

○ Dell計(jì)算機(jī)

○ Hp打印機(jī)

        TCI-XM 經(jīng)濟(jì)型清潔度檢測系統(tǒng)對清洗過濾后得到的濾有殘?jiān)臑V紙，通過顯微鏡法觀察和測定殘?jiān)w粒的大小，與XA型的清潔度檢測系統(tǒng)的差別在XM型是手動(dòng)型，所以一般可以適用于清潔度要求不是非常高的情況，如檢測大顆粒，或者顆粒較大而且數(shù)量不多。